書誌事項
- タイトル別名
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- On-line monitoring method of PCBs by laser ionization dynamic trapping time of flight mass spectrometry
- レーザー イオンカ ダイナミックトラップ ヒコウ ジカンガタ シツリョウ ブンセキホウ ニ ヨル ポリ エンカ ビフェニルルイ ノ ジンソク ブンセキ
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説明
有機ハロゲン化物排出などによる環境汚染が社会問題化している中,オンラインで微量濃度監視(モニタリング)する手法の確立が強く望まれている.その有力な方法のひとつとして,ダイナミックトラップ飛行時間型質量分析(TOFMS)法を適用した結果について報告する.本法はガス直接導入式レーザーイオン化TOFMS技術にイオントラップ濃縮技術を付加した手法である.レーザーイオン化されたイオンを効率的に捕捉する手法として,ダイナミックトラップ法が有用であることを確認した.更なる高感度化のためイオン軌道シミュレーションを実施した.その結果,イオントラップ内に入るイオンを減速させる方法の有効性を確認した.シミュレーションで得た知見を実験にて検証し,ポリクロロビフェニル(PCB)類が計測時間1分でpptVレベルの感度で計測可能を確認した.今後,環境モニタリング手法としての適用性を実証していく予定である. <br>
収録刊行物
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- 分析化学
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分析化学 53 (12), 1441-1448, 2004
公益社団法人 日本分析化学会
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1390001204356291584
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- NII論文ID
- 110002910005
- 30016416902
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- NII書誌ID
- AN00222633
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- COI
- 1:CAS:528:DC%2BD2cXhtFWrtb3E
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- NDL書誌ID
- 7180434
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- ISSN
- 05251931
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- 本文言語コード
- ja
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- データソース種別
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- JaLC
- NDLサーチ
- Crossref
- NDLデジコレ(旧NII-ELS)
- CiNii Articles
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- 抄録ライセンスフラグ
- 使用不可