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- 瀬戸屋 孝
- 東芝セミコンダクター社
書誌事項
- タイトル別名
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- Field Failure Mode and Reliability Improvement of System LSI (Physics of Failure and Reliability)
- システムLSIの市場不良モードと信頼性向上
- システム LSI ノ シジョウ フリョウ モード ト シンライセイ コウジョウ
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説明
現在の「新・3種の神器」といわれる薄型テレビ,デジタルカメラ,DVDレコーダーに採用されるシステムLSIが,半導体の需要を牽引している.この分野では,市場が世界的であり,新製品の投入時期が早ければ大きな市場シェアと莫大な利益を生み出すため,いかに短期間で市場に新製品を投入できるかが重要なポイントになっている.これを達成するためには,これらデジタル機器の重要な基幹電子部品であるシステムLSIの開発段階から品質,信頼性の作り込み,市場の要求レベルに合った品質レベルの製品を投入する技術が必要であり,ここではシステムLSIの主要不良モードであるスペック,不再現不良(いわいるゼロタイム不良)に対する考え方及び,各不良期での不良率推定方法を説明し,システムLSIの品質,信頼性向上施策について述べる.
収録刊行物
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- 日本信頼性学会誌 信頼性
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日本信頼性学会誌 信頼性 26 (1), 3-8, 2004
日本信頼性学会
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1390001204451982208
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- NII論文ID
- 110003994539
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- NII書誌ID
- AN10540883
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- ISSN
- 24242543
- 09192697
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- NDL書誌ID
- 6848463
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- 本文言語コード
- ja
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- データソース種別
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- JaLC
- NDL
- CiNii Articles
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- 抄録ライセンスフラグ
- 使用不可