InP HFET高信頼化の検討(光デバイス・部品の信頼性)

書誌事項

タイトル別名
  • Reliability Study of InP HFETs(Reliability of Optical Devices and Parts)
  • InP HFET高信頼化の検討
  • InP HFET コウシンライカ ノ ケントウ

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説明

超高速光通信システムのキーデバイスとして開発中のInP HFETの高信頼化の検討について述べる.電極のメタルおよび真性部分の改良に伴う寿命向上の結果を示す.また, HFET の40-Gb/s ICの加速試験の結果と単体トランジスタとの関連を示す.

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