書誌事項
- タイトル別名
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- Reliability Study of InP HFETs(Reliability of Optical Devices and Parts)
- InP HFET高信頼化の検討
- InP HFET コウシンライカ ノ ケントウ
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説明
超高速光通信システムのキーデバイスとして開発中のInP HFETの高信頼化の検討について述べる.電極のメタルおよび真性部分の改良に伴う寿命向上の結果を示す.また, HFET の40-Gb/s ICの加速試験の結果と単体トランジスタとの関連を示す.
収録刊行物
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- 日本信頼性学会誌 信頼性
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日本信頼性学会誌 信頼性 24 (8), 673-681, 2002
日本信頼性学会
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1390001204452136576
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- NII論文ID
- 110003994349
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- NII書誌ID
- AN10540883
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- ISSN
- 24242543
- 09192697
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- NDL書誌ID
- 6375188
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- 本文言語コード
- ja
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- データソース種別
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- JaLC
- NDL
- CiNii Articles
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- 抄録ライセンスフラグ
- 使用不可