腐食検出によるICの劣化(寿命)診断技術の検討

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タイトル別名
  • An Examination of Degradation(Life) Diagnos is on IC Based on Corrosion Detection

抄録

電子部品の経年劣化上, 入出力特性異常よりも早期に現れる腐食現象を画像で検知し, ICの寿命消費の程度を見積もることを検討した。今回は, その方法を詳述し, あるディジタルICを対象として, 腐食画像による劣化(寿命)診断の可能性を検討した研究事例を報告する。

収録刊行物

詳細情報 詳細情報について

  • CRID
    1390001204452430976
  • NII論文ID
    110004003276
  • DOI
    10.11348/reajshinrai.18.4_271
  • ISSN
    24242543
    09192697
  • 本文言語コード
    ja
  • データソース種別
    • JaLC
    • CiNii Articles
  • 抄録ライセンスフラグ
    使用不可

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