腐食検出によるICの劣化(寿命)診断技術の検討
書誌事項
- タイトル別名
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- An Examination of Degradation(Life) Diagnos is on IC Based on Corrosion Detection
抄録
電子部品の経年劣化上, 入出力特性異常よりも早期に現れる腐食現象を画像で検知し, ICの寿命消費の程度を見積もることを検討した。今回は, その方法を詳述し, あるディジタルICを対象として, 腐食画像による劣化(寿命)診断の可能性を検討した研究事例を報告する。
収録刊行物
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- 日本信頼性学会誌 信頼性
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日本信頼性学会誌 信頼性 18 (4), 271-278, 1996
日本信頼性学会
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1390001204452430976
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- NII論文ID
- 110004003276
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- ISSN
- 24242543
- 09192697
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- 本文言語コード
- ja
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- データソース種別
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- JaLC
- CiNii Articles
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- 抄録ライセンスフラグ
- 使用不可