Deterioration and Destruction of Semiconductor Devices caused by Electrostatic Phenomena
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- Fukuda Yasuhiro
- 沖電気工業株式会社
Bibliographic Information
- Other Title
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- 半導体デバイスの静電気破壊現象
- 信頼性教室 半導体デバイスの静電気破壊現象
- シンライセイ キョウシツ ハンドウタイ デバイス ノ セイデンキ ハカイ ゲンショウ
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Journal
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- The Journal of Reliability Engineering Association of Japan
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The Journal of Reliability Engineering Association of Japan 22 (1), 51-59, 2000
Reliability Engineering Association of Japan
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Details 詳細情報について
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- CRID
- 1390001204452729728
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- NII Article ID
- 110004002571
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- NII Book ID
- AN10540883
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- ISSN
- 24242543
- 09192697
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- NDL BIB ID
- 4975460
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- Text Lang
- ja
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- Data Source
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- JaLC
- NDL
- CiNii Articles
