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- 藤江 明雄
- (株)東海産業
書誌事項
- タイトル別名
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- Various Problems of ESD of Semiconductor Devices(ESD(Electro Static Discharge))
- 半導体分野のESD(静電気放電)に関わる諸問題
- ハンドウタイ ブンヤ ノ ESD(セイデンキ ホウデン)ニ カカワル ショ モンダイ
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抄録
LSIへの市場主ニーズは多機能化,高速化や低価格化である.これらニーズの実現には微細化設計技術の組込みが必須事項である.そこには定電界設計概念の定着でLSIの電源電圧の低下と「微細化設計⇒ESD(静電気放電)耐性の低下」の図式がある.ここでは微細化設計が如何にESD耐性低下に関与するか,またESD耐性低下を如何にくい止めるかの対策動向問題を中心に概説する.
収録刊行物
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- 日本信頼性学会誌 信頼性
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日本信頼性学会誌 信頼性 35 (6), 342-349, 2013
日本信頼性学会
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1390001204453043712
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- NII論文ID
- 110009661430
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- NII書誌ID
- AN10540883
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- ISSN
- 24242543
- 09192697
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- NDL書誌ID
- 024931674
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- 本文言語コード
- ja
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- データソース種別
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- JaLC
- NDL
- CiNii Articles
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- 抄録ライセンスフラグ
- 使用不可