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- 真田 克
- NEC
書誌事項
- タイトル別名
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- Defabrication Technology for LSI Failure Analysis
- LSI ノ コショウ カイセキ ノ タメ ノ カコウ ギジュツ ソノ 2
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抄録
LSIを故障解析する際に用いる加工技術について紹介する。本解説では-その1-に続き、LSIの構成要因に対する代表的な3つ加工技術(レーザ、イオン、プラズマ)そして、著者が直接絡んだ技術から、YAGレーザ加工に関して説明を行う。
収録刊行物
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- 日本信頼性学会誌 信頼性
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日本信頼性学会誌 信頼性 20 (8), 506-516, 1998
日本信頼性学会
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1390001204453753600
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- NII論文ID
- 110004002935
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- NII書誌ID
- AN10540883
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- ISSN
- 24242543
- 09192697
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- NDL書誌ID
- 4615311
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- 本文言語コード
- ja
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- データソース種別
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- JaLC
- NDL
- CiNii Articles
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- 抄録ライセンスフラグ
- 使用不可