A Simple Measurement Showing the Temperature Dependence of Electrical Resistance of an Elementary Metal and a Semiconductor

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  • 単体金属と半導体の電気抵抗の温度変化の簡易測定

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学生実験用として,金属と半導体との電気抵抗の室温付近における温度変化を同時に,かつ簡易な実験装置で迅速に測定ができるように工夫した.単体金属試料として従来使われていた細く長い金属線(試料の大きさは大きく,電気抵抗は小さい)に代えて金属タングステンから出来ている市販の小電球のフィラメントを利用することによって,金属試料の電気抵抗は室温付近で1kΩ程度の大きさとなり,しかもその試料の大きさは試験管に設置できる程度に非常に小さくなる.半導体試料としてサーミスターを使用するならば,金属と半導体との試料を1つの小さな試体管に収めることができて,それらの温度を制御することが非常に容易になる.しかも,市販の安価な製品であるデジタルマルチメーター(これはホイーストンブリッジよりも測定時間が速いを使用すれば.容易にそれらの電気抵抗の変化をいっしょに充分精確に測定できる.電気伝導の機構が非常に異なるこの2種類の物質の電気抵抗の温度依存性を対比しながら同時に実験することができるので教育的効果が非常に大きい.

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  • CRID
    1390001204514888064
  • NII Article ID
    110007489584
  • DOI
    10.20653/pesj.35.1_5
  • ISSN
    24321028
    03856992
  • Text Lang
    ja
  • Data Source
    • JaLC
    • CiNii Articles
  • Abstract License Flag
    Disallowed

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