X線回折法による光導電ターゲットの構造解析(第2報) : 薄膜ターゲットの非破壊組成決定法
書誌事項
- タイトル別名
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- Structural Analyses of Photconductive Targets by X-ray Crystallography (part II) : Non-desruotive determination of the composition of thin film targets
収録刊行物
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- テレビジョン学会技術報告
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テレビジョン学会技術報告 9 (4), 13-18, 1985
一般社団法人 映像情報メディア学会
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1390001204520223872
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- NII論文ID
- 110003683672
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- ISSN
- 24330914
- 03864227
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- 本文言語コード
- ja
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- データソース種別
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- JaLC
- CiNii Articles