TFD-LCDにおける焼き付きとその改善方法について : 情報ディスプレイ

DOI

書誌事項

タイトル別名
  • Improvement of Image Stickling in TFD LCD

この論文をさがす

説明

I-V特性のシフトが焼き付きの1つの原因であることを確かめ、その関係を明らかにした。焼き付き時間はI-V特性のシフト量に比例し、素子I-V特性のシフト量が小さければ、焼き付き時間は短いことが確認できた。また、素子I-V特性のシフト量を小さくするには、熱処理温度を高くすればよいことがわかった。ただし、熱処理温度を高くすればコントラスト比が低下するため、熱処理温度と陽極酸化電圧の最適化が必要である。

収録刊行物

キーワード

詳細情報 詳細情報について

  • CRID
    1390001204521644928
  • NII論文ID
    110003679495
  • DOI
    10.11485/tvtr.18.9_31
  • ISSN
    24330914
    03864227
  • 本文言語コード
    ja
  • データソース種別
    • JaLC
    • CiNii Articles
  • 抄録ライセンスフラグ
    使用不可

問題の指摘

ページトップへ