アレイドピンホールカメラによる2次元イオンビーム計測 : 慣性核融合用大強度イオンビームの新評価法の開発

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タイトル別名
  • Two-dimensional Beam Dlagnostics method for Intense lon Beams : Two-dimensional divergence distribution measuring method

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抄録

慣性核融合を目的とした大強度イオンビームの2次元発散角, 強度の空間分布を時間分解して計測するため2次元アレイドピンホールカメラ(APC)を開発した。これにより従来, 計算機シミュレーション等で予測され, 実験的にはほとんど実証されていないビーム強度と発散角の相関, ダイオード内部の不安定性の成長によると考えられるビーム発散角の時間的増大等を観測し, イオンダイオード物理を解明していくことができる。2次元APCは, 1次元のAPC[K.Yasuike, S.Miyamoto and S.Nakai, Review of Scientific Instruments, (to be published).]の拡張である。計測の対象となるビームは, 磁場絶縁型イオンダイオードからの-1MeV, -10A/cm^2,パルス幅100ns.粒子種が主にプロトン(H^+)のアニュラービームである。APCはビームソース上20mmの範囲を15ns以下の時間分解能、発散角分解能10mrad程度で計測することができる。

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詳細情報 詳細情報について

  • CRID
    1390001204522276992
  • NII論文ID
    110003679654
  • NII書誌ID
    AN00352231
  • DOI
    10.11485/tvtr.19.31_19
  • ISSN
    24330914
    03864227
  • 本文言語コード
    ja
  • データソース種別
    • JaLC
    • CiNii Articles
  • 抄録ライセンスフラグ
    使用不可

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