書誌事項
- タイトル別名
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- Effects of Power-Supply Parasitic Components on Substrate Noise Generation in Large-Scale Digital Circuits
- ダイキボ ロンリ カイロ ニ オケル キバン ザツオン ハッセイ ト デンゲン キセイ ソシ ノ コウカ
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抄録
0.25-μm, 2.5-V CMOS技術を用いて活性化率制御雑音源およびアレイ型高線形基板電位検出回路を設計・試作し、論理配置密度/活性化率を制御した基板雑音測定を実現し、大規模CMOSデジタル回路における基板/電源雑音の発生過程と電源/グラウンド配線寄生素子の効果を明らかにした。電源/グラウンド配線に空間分布する寄生インピーダンスにより雑音発生に局所性が生じる。一方、論理回路の寄生容量成分は電荷溜として雑音振幅を低減する作用を示すが、その効果は寄生インピーダンスにより遮蔽される。
収録刊行物
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- 映像情報メディア学会技術報告
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映像情報メディア学会技術報告 25.54 (0), 9-14, 2001
一般社団法人 映像情報メディア学会
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1390001204527720064
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- NII論文ID
- 110003689268
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- NII書誌ID
- AN1059086X
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- ISSN
- 24241970
- 13426893
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- NDL書誌ID
- 5949115
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- 本文言語コード
- ja
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- データソース種別
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- JaLC
- NDL
- CiNii Articles
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- 抄録ライセンスフラグ
- 使用不可
