Scanning Probe Microscopy
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- Yamaoka Takehiro
- SII NanoTechnology Inc.
Bibliographic Information
- Other Title
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- 最新の分析・計測技術 第2回 最新の走査型プローブ顕微鏡技術
- サイシン ノ ブンセキ ケイソク ギジュツ ダイ2カイ サイシン ノ ソウサガタ プローブ ケンビキョウ ギジュツ
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Journal
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- Journal of The Japan Institute of Electronics Packaging
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Journal of The Japan Institute of Electronics Packaging 13 (4), 288-293, 2010
The Japan Institute of Electronics Packaging
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Details 詳細情報について
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- CRID
- 1390001204559633280
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- NII Article ID
- 10030703085
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- NII Book ID
- AA11231565
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- COI
- 1:CAS:528:DC%2BC3cXpvVekt7c%3D
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- ISSN
- 1884121X
- 13439677
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- NDL BIB ID
- 10763767
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- Text Lang
- ja
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- Data Source
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- JaLC
- NDL
- Crossref
- CiNii Articles