透過型電子顕微鏡による高分解能観察法

DOI 被引用文献1件

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タイトル別名
  • High-Resolution Transmission Electron Microscopy
  • A. Imaging Principle
  • A. 結像原理

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説明

透過型電子顕微鏡の結像原理を述べる.最初に回折コントラストと位相コントラストの形成機構を比較する。次に,結晶格子像の最も簡単な場合である二波干渉じまの強度および波面収差について説明する。さらに多波格子像の特別な場合である結晶構造像の出現を,弱位相物体近似下で考察するとともに,実際の結晶の場合への展開を試みる.最後に加速電圧,レンズ電流の不安定性およびビームの収束に起因する干渉性の低下,ならびに,それにより規定される解像限界について述べる.

収録刊行物

  • 応用物理

    応用物理 59 (3), 358-369, 1990

    公益社団法人 応用物理学会

被引用文献 (1)*注記

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キーワード

詳細情報 詳細情報について

  • CRID
    1390001204596195968
  • NII論文ID
    130003430588
  • NII書誌ID
    AN00026679
  • DOI
    10.11470/oubutsu1932.59.358
  • ISSN
    21882290
    03698009
  • データソース種別
    • JaLC
    • CiNii Articles
  • 抄録ライセンスフラグ
    使用不可

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