書誌事項
- タイトル別名
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- Diagnostics of Scattering Atoms for High Sensitive Spectroscopy Using Low-Fluence Laser Ablation
- Laser Original 低フルエンスアブレーションを利用した高感度分光分析における放出原子特性
- Laser Original テイフルエンス アブレーション オ リヨウシタ コウカンド ブンコウ ブンセキ ニ オケル ホウシュツ ゲンシ トクセイ
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抄録
A low fluence UV laser ablation technique combined with Laser-Induced Fluorescence (LIF) spectroscopy is developed for an extreme trace element analysis of solid surface with a nanometer-scale depth resolution. Since the behavior of scattering atoms by the laser ablation was significant for improving the sensitivity of the analysis, the spatial distributions of the scattering atoms were investigated by a two dimensional imaging LIF spectroscopy method. Influences of a buffer gas and an assist mask on the atomic distributions were also investigated for enhancing the sensitivity of the analysis.
収録刊行物
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- レーザー研究
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レーザー研究 36 (4), 206-210, 2008
一般社団法人 レーザー学会
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1390001204648537088
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- NII論文ID
- 10021105674
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- NII書誌ID
- AN00255326
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- ISSN
- 13496603
- 03870200
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- NDL書誌ID
- 9479036
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- 本文言語コード
- ja
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- データソース種別
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- JaLC
- NDL
- Crossref
- CiNii Articles
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- 抄録ライセンスフラグ
- 使用不可