Narrow Gap 半導体の物性

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• CRID

  1390001204663586560

• NII論文ID

  130003589806

• DOI

  10.11470/oubutsu1932.43.601

• COI

  1:CAS:528:DyaE2cXlslygurY%3D

• ISSN

  21882290

  03698009

• データソース種別

  • JaLC
  • CiNii Articles