イオンミリング技法とウルトラミクロトーム（超薄切片）技法のラウンドロビンテスト 工業材料における電顕観察用薄膜作製技術の標準化
書誌事項
- タイトル別名
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- Roundrobin test of thin film preparation for electron microscopy by ion-milling and ultra-microtome.
- 工業材料における電顕観察用薄膜作製技術の標準化
収録刊行物
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- 電子顕微鏡
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電子顕微鏡 32 (1), 52-55, 1997
公益社団法人 日本顕微鏡学会
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1390001204733074816
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- NII論文ID
- 130003643464
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- ISSN
- 04170326
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- 本文言語コード
- ja
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- データソース種別
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- JaLC
- CiNii Articles