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- 宮田 謙一
- 大阪工業技術試験所第1部
説明
前報においてある種の湿式法微粉末シリカ表面に存在するシラノール基の表面濃度が27μmol/m2であることを報告したが,この値は理論的に算出された値13μmol/m2よりいちじるしく高いものである。このように高い表面濃度でシラノール基がシリカ表面に存在する理由を明らかにするために,シラノール基の表面濃度が異常な値を示す微粉末シリカ,正常な値を示す微粉末シリカ,および後者を加圧圧縮して得られた圧縮微粉末シリカについて,水蒸気吸着等温線を測定し,それらシリカの絶体吸着等温線を比較検討した。その結果,この湿式法微粉末シリカは, 250m2/gの比表面積を持つ粒子の凝集体であり,凝集粒子問に窒素分子は吸着されないが,水分子は表面シラノール基との水素結合を介して吸着されるとの結論を得た。
収録刊行物
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- 日本化學雜誌
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日本化學雜誌 86 (3), 294-296, 1965
The Chemical Society of Japan
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キーワード
詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1390001205150405504
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- NII論文ID
- 130003510919
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- ISSN
- 21850917
- 03695387
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- 本文言語コード
- ja
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- データソース種別
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- JaLC
- Crossref
- CiNii Articles
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- 抄録ライセンスフラグ
- 使用不可