Aberration corrected microscopy with newly developed platform
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- Freitag Bert
- FEI Company
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- Erni Rolf
- FEI Company
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- Hubert Dominique
- FEI Company
Bibliographic Information
- Other Title
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- 次世代の電子光学系を有する収差補正電子顕微鏡の開発
- ジ セダイ ノ デンシ コウガクケイ オ ユウスル シュウサ ホセイ デンシ ケンビキョウ ノ カイハツ
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Journal
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- KENBIKYO
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KENBIKYO 41 (1), 21-25, 2006
The Japanese Society of Microscopy
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Keywords
Details 詳細情報について
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- CRID
- 1390001205219627904
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- NII Article ID
- 130003643917
- 10018131069
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- NII Book ID
- AA11917781
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- COI
- 1:CAS:528:DC%2BD28XlsFajsbs%3D
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- ISSN
- 24342386
- 13490958
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- NDL BIB ID
- 7910639
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- Data Source
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- JaLC
- NDL
- CiNii Articles