ケルビンプローブフォース顕微鏡による有機薄膜トランジスタの局所電位評価

DOI Web Site Web Site オープンアクセス

書誌事項

タイトル別名
  • Surface Potential Measurements of Organic Thin-Film Transistors by Kelvin-Probe Force Microscopy
  • ケルビンプローブフォース ケンビキョウ ニ ヨル ユウキ ハクマク トランジスタ ノ キョクショ デンイ ヒョウカ

この論文をさがす

説明

　Kelvin-probe force microscopy (KPFM) is a surface potential mapping technique based on dynamic-mode atomic force microscopy (AFM). It is useful to visualize carrier injection barriers and trapped charges in operating organic thin-film transistors (OTFTs). Since it is desirable to perform KPFM experiments in vacuum conditions, frequency modulation (FM) technique is often used to operate AFM/KPFM. We review two operating modes of KPFM using FM-AFM in vacuum and demonstrate visualization of the carrier injection barriers and trapped charges in OTFTs. We also introduce a method to visualize the transient distribution of the trapped charges being evacuated from the channel of the operating OTFT.<br>

収録刊行物

キーワード

詳細情報 詳細情報について

問題の指摘

ページトップへ