ロット品質の平均と標準偏差を同時に保証する計量規準型1回抜取検査の簡易設計

DOI Web Site 参考文献7件

書誌事項

タイトル別名
  • Simplified Design of Variables Single Sampling Plan Indexed by Mean and Standard Deviation in Lot Quality
  • ロット ヒンシツ ノ ヘイキン ト ヒョウジュン ヘンサ オ ドウジ ニ ホシ

この論文をさがす

説明

品質特性が正規分布に従うとき, 標準偏差既知・未知のそれぞれの場合について計量規準型1回抜取検査がJISで定められている.ところで, 標準偏差既知の場合のJIS Z 9003では, ロット品質の平均を保証する場合とロットの不良率を保証する場合の2通りの検査方式が規定されている.これに対し, 標準偏差未知の場合のJIS Z 9004では, ロットの不良率を保証する検査方式が規定されているだけで, ロット品質の平均を保証する検査方式は規定されていない.この点に鑑み, 有薗らは標準偏差未知の場合につき, ロット品質の平均だけでなく, 標準偏差も同時に保証する計量規準型1回抜取検査方式を提案し, その設計法を与えた.しかし, その設計法は対数尤度比統計量にもとづく複雑なものである.本論文では, 対数尤度比統計量を全く必要とせず, 正規分布に従う品質特性値に直接Patnaik近似を適用するだけで, 容易にロット品質の平均と標準偏差を同時に保証する計量規準型1回抜取検査の設計が可能であることを示すとともに, 提案設計法の有効性を数値検証する.

収録刊行物

参考文献 (7)*注記

もっと見る

詳細情報 詳細情報について

問題の指摘

ページトップへ