極低温放射計に基づく高精度分光応答度依頼試験

DOI

書誌事項

タイトル別名
  • High-Accuracy Spectral Responsivity Calibration Based on Cryogenic Radiometer

抄録

産業技術総合研究所計量標準総合センター（NMIJ）において、電力置換型極低温放射計に基づく高精度絶対分光応答度校正依頼試験を開始した。単体シリコンフォトダイオード（精密測光用に限る）、もしくは複数のシリコンフォトダイオードから構成されるトラップ型光検出器を校正対象物とし、458 nmから633 nmまでのレーザー波長（最大6点）における分光応答度校正を行う。直近の国際比較（CCPR-S3、2000年に最終報告書発行）において、校正不確かさの大半を占めていた極低温放射計入射ウインドウの透過率測定に起因する不確かさが、測定装置及び測定方式の改良に伴い0.045%から0.005% (k=1)と大幅に改善されたことにより、相対拡張不確かさ　0.04%　(k=2) での分光応答度校正が可能となった。本講演では、依頼試験に用いる高精度絶対分光応答度校正装置の仕様概要について報告するとともに、不確かさの算出根拠について議論する。

収録刊行物

詳細情報 詳細情報について

  • CRID
    1390001205549806208
  • NII論文ID
    130006953942
  • DOI
    10.11515/ieijac.39.0.131.0
  • 本文言語コード
    ja
  • データソース種別
    • JaLC
    • CiNii Articles
  • 抄録ライセンスフラグ
    使用不可

問題の指摘

ページトップへ