QFP ICのリード浮きの電気的検出用回路
書誌事項
- タイトル別名
-
- Test Circuit for Locating Open Leads of QFP ICS by Current Testing
説明
QFP ICをプリント配線板にはんだ付けする際に発生するリード浮きを電気的に検出する検査法を我々は現在開発中である。本稿では複数個のリードを同時に検査することができる検査回路とその回路の設計法を提案する。またその検査回路によりQFP ICのリード浮きが検出できることを明らかにする。
収録刊行物
-
- エレクトロニクス実装学術講演大会講演論文集
-
エレクトロニクス実装学術講演大会講演論文集 23 (0), 74-76, 2009
一般社団法人エレクトロニクス実装学会
- Tweet
詳細情報 詳細情報について
-
- CRID
- 1390001205555464960
-
- NII論文ID
- 130005469507
-
- 本文言語コード
- ja
-
- データソース種別
-
- JaLC
- CiNii Articles
-
- 抄録ライセンスフラグ
- 使用不可