1~20GHzにわたる銅張誘電体基板の表面および界面比導電率の測定
書誌事項
- タイトル別名
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- Measurement of surface and interface conductivity of copper-clad dielectric laminated substrates in the frequency range 1~20GHz
抄録
誘電体共振器法により、銅張誘電体基板の表面導電率および界面導電率の測定を1~20GHzにわたり行ったので報告する。
収録刊行物
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- エレクトロニクス実装学術講演大会講演論文集
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エレクトロニクス実装学術講演大会講演論文集 26 (0), 53-54, 2012
一般社団法人エレクトロニクス実装学会
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1390001205556502912
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- NII論文ID
- 130005469960
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- 本文言語コード
- ja
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- データソース種別
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- JaLC
- CiNii Articles
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- 抄録ライセンスフラグ
- 使用不可