1~20GHzにわたる銅張誘電体基板の表面および界面比導電率の測定

DOI

書誌事項

タイトル別名
  • Measurement of surface and interface conductivity of copper-clad dielectric laminated substrates in the frequency range 1~20GHz

抄録

誘電体共振器法により、銅張誘電体基板の表面導電率および界面導電率の測定を1~20GHzにわたり行ったので報告する。

収録刊行物

詳細情報 詳細情報について

  • CRID
    1390001205556502912
  • NII論文ID
    130005469960
  • DOI
    10.11486/ejisso.26.0_53
  • 本文言語コード
    ja
  • データソース種別
    • JaLC
    • CiNii Articles
  • 抄録ライセンスフラグ
    使用不可

問題の指摘

ページトップへ