月面その場物質分析におけるコンタミ付着による岩石試料分析精度への影響

DOI
  • 小野 正太
    東京大学大学院理学系研究科地球惑星科学専攻 宇宙航空研究開発機構宇宙科学研究本部
  • 小川 和律
    東京工業大学理工学研究科地球惑星科学専攻 宇宙航空研究開発機構宇宙科学研究本部
  • 岡田 達明
    宇宙航空研究開発機構宇宙科学研究本部
  • 加藤 學
    宇宙航空研究開発機構宇宙科学研究本部

書誌事項

タイトル別名
  • Optimized in-situ grinding system for lunar rock analysis in X-Ray Fluorescence - evaluation of contmination

説明

JAXAが検討中の月面軟着陸機計画において、我々は岩石試料を採取し、加工・分析する観測装置(SIP)の搭載を提案している。SIPでは、採取試料を研削し、研磨面をX線蛍光回折(XRF/XRD)およびマクロ分光分析することで、岩石の成因や母岩の特徴解明を目指す。本研究は、要求される研磨面粗さと、採取時に付着しているレゴリスや研削時発生するコンタミの分析精度への影響を明らかにするものである。今回は、実際に起こりえる測定条件の下、採取が予想される岩石を用いてXRF強度を測定した結果を報告する。

収録刊行物

詳細情報 詳細情報について

  • CRID
    1390001205558368512
  • NII論文ID
    130004636198
  • DOI
    10.14909/jsps.2007f.0.135.0
  • データソース種別
    • JaLC
    • CiNii Articles
  • 抄録ライセンスフラグ
    使用不可

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