米国特許分類の研究:

書誌事項

タイトル別名
  • Study about U.S.Patent Classification System:
  • —Methods of selecting class/subclass and hierarchical classification.—
  • —分類の探し方と階層分類—

説明

米国特許を検索するには国際特許分類(IPC)でなく米国特許分類(USC)を使用すべし、と一般にいわれている。しかし、USCは探し方が難解であり、検索式を作成するのが容易ではないともいわれている。今回、USCに関して以下の点を検討した。<BR>1)USCの探し方。米国特許商標庁のホームページのほか各種データベース・テクニックを使ったUSCの探し方。<BR>2)USCの階層分類。<BR>その結果、種々の方法でUSCの探し方と使用上の注意点を理解することができた。また、3分野階層分類のうち化学分野の内容確認と優先順の検証も行ったので報告する。

収録刊行物

詳細情報 詳細情報について

  • CRID
    1390001205644936704
  • NII論文ID
    130004598576
  • DOI
    10.11514/infopro.2009.0.75.0
  • データソース種別
    • JaLC
    • CiNii Articles
  • 抄録ライセンスフラグ
    使用不可

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