Ion Beam Figuring of insulators
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- Funabashi Katsuhiro
- Tokyo University of Science
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- Kurashima Yuichi
- Tokyo University of Science
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- Miyachi Shuhei
- Tokyo University of Science
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- Miyamoto Iwao
- Tokyo University of Science
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- Numata Atsushi
- Canon
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- Ando Manabu
- Canon
Bibliographic Information
- Other Title
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- IBFによる絶縁物の加工
- 電子ビームによる帯電の除去
Abstract
EUVリソグラフィー装置の非球面ミラー基板の最終形状修正には,ナノメートルオーダの超微細加工精度が必要となっている.この加工技術としてイオンビーム加工が有力視されている.イオンビーム加工では被加工物が電気的に絶縁物である場合,イオンが表面に帯電してしまい,加工が不安定になる.本報告では,絶縁物をイオンビーム加工中に電子を照射しながら加工を行い,この時の加工特性を評価したのでこれについて報告する.
Journal
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- Proceedings of JSPE Semestrial Meeting
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Proceedings of JSPE Semestrial Meeting 2006A (0), 965-966, 2006
The Japan Society for Precision Engineering
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Keywords
Details 詳細情報について
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- CRID
- 1390001205651139072
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- NII Article ID
- 130004658447
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- Data Source
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- JaLC
- CiNii Articles
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- Abstract License Flag
- Disallowed