A Study on the Resist Coat Method inside the TSV on the 3D Stack Device
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- Seike Yoshiyuki
- Asahi Sunac Corporation
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- Kobayashi Yoshinori
- Asahi Sunac Corporation
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- Miyachi Keiji
- Asahi Sunac Corporation
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- Shimai Futoshi
- Tokyo Ohka kogyo CO., LTD.
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- Maruyama Kenji
- Tokyo Ohka kogyo CO., LTD.
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- Sato Akihiko
- Tokyo Ohka kogyo CO., LTD.
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- Doi Toshiro
- Kyushu University
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- Kurokawa Syuhei
- Kyushu University
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- Ohnishi Osamu
- Kyushu University
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- Ohtsubo Masanori
- Kyushu University
Bibliographic Information
- Other Title
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- 3Dスタックデバイスの製造工程におけるTSV内レジスト成膜に関する研究
Abstract
小型化、高性能化を実現する3次元スタック構造の半導体デバイスにおいて、貫通電極形成のニーズがある。本手法では、直径数十μm、深さ数百μmのTSV(Through Silicon via)にレジストを成膜する必要があるが、その技術は未だ確立されていない。本研究ではこの技術確立のためレジストを微小液滴化し、孔壁面に成膜を可能とする回転霧化式スプレーを利用した成膜方法を提案する。
Journal
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- Proceedings of JSPE Semestrial Meeting
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Proceedings of JSPE Semestrial Meeting 2011A (0), 153-154, 2011
The Japan Society for Precision Engineering
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Details 詳細情報について
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- CRID
- 1390001205655550208
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- NII Article ID
- 130004660077
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- Data Source
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- JaLC
- CiNii Articles
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- Abstract License Flag
- Disallowed