硬脆性材料の基本加工特性の研究

DOI
  • 鷹巣 良史
    パナソニック 生産技術開発センター 生産技術研究所
  • 久保 雅裕
    パナソニック 生産技術開発センター 生産技術研究所
  • 和田 紀彦
    パナソニック 生産技術開発センター 生産技術研究所
  • 大澤 晋作
    東北大 工学研究科 機械システムデザイン工学専攻
  • 嶋田 慶太
    東北大 工学研究科 機械システムデザイン工学専攻
  • 水谷 正義
    東北大 工学研究科 機械システムデザイン工学専攻
  • 厨川 常元
    東北大 工学研究科 機械システムデザイン工学専攻

抄録

現在,次世代半導体として期待されているワイドギャップ半導体の高能率加工が期待されている.ワイドギャップ半導体はGaN,SiC,ダイヤモンド等の硬脆性材料であるために,加工時の脆性破壊による内部変質層の影響が大きい.本報告では単結晶GaN基板の延性・脆性破壊状態に関する基本加工特性評価を報告する.

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詳細情報 詳細情報について

  • CRID
    1390001205659005696
  • NII論文ID
    130005478888
  • DOI
    10.11522/pscjspe.2014s.0_339
  • 本文言語コード
    ja
  • データソース種別
    • JaLC
    • CiNii Articles
  • 抄録ライセンスフラグ
    使用不可

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