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金属及び半導体表面上での、picene分子膜の成長過程計測

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Abstract

STM及びXPSを用いて、Cu(111)及びAu(111)表面上でのpicene分子膜の成長に伴う構造と電子状態の変化を計測した。 Au(111)基板上では、picene分子は被覆率に依存して2種類の構造を形成するが、Cu(111)基板上では、単一の構造のみが形成されることが わかった。また、各金属基板とpicene分子との結合は非常に弱いこと、さらに多層が形成されにくいことがわかった。

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Keywords

Details

  • CRID
    1390001205677797504
  • NII Article ID
    130005481164
  • DOI
    10.14886/sssj2008.34.0_169
  • Data Source
    • JaLC
    • CiNii Articles
  • Abstract License Flag
    Disallowed

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