HAXPESおよびAr-GCIB XPSを用いたリチウムイオン電池活物質の分析
書誌事項
- タイトル別名
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- HAXPES and Ar-GCIB XPS analysis for electrode of lithium ion battery
説明
XPSは材料表面の組成、結合状態を評価する手法として非常に有用である。XPSで材料内部の情報を取得するにはイオンエッチングを併用する必要があるが、材料の変質が懸念される。本研究ではLIB活物質を対象として、非破壊または低損傷で材料内部の情報を得られる放射光を用いたHAXPESおよびAr-GCIBを併用した実験室XPSのデータの取得・比較を行い、目的に応じた各手法の使い分けについて検討した。
収録刊行物
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- 表面科学学術講演会要旨集
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表面科学学術講演会要旨集 37 (0), 16-, 2017
公益社団法人 日本表面真空学会
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1390001205678363776
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- NII論文ID
- 130005974670
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- 本文言語コード
- ja
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- データソース種別
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- JaLC
- CiNii Articles
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- 抄録ライセンスフラグ
- 使用不可
