Investigation of Electronic States and Conductivity during Thin-Film Growth of Perovskite Oxides
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- Ohsawa Takeo
- 東北大学 WPI-AIMR
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- Suzuki Tohru
- 東北大学 WPI-AIMR
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- Shimizu Ryota
- 東北大学 WPI-AIMR
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- Iwaya Katsuya
- 東北大学 WPI-AIMR
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- Shiraki Susumu
- 東北大学 WPI-AIMR
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- Hitosugi Taro
- 東北大学 WPI-AIMR JSTさきがけ
Bibliographic Information
- Other Title
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- ペロブスカイト酸化物薄膜成長時における電子状態・伝導特性の検証
Abstract
パルスレーザー堆積法を用いた酸化物薄膜形成時における電子状態・伝導特性の変化を検討した。(√13×√13)-R33.7º SrTiO3(001)再構成基板表面上にSrOやLaAlO3薄膜を成長させると、基板表面に酸素由来の欠陥が誘起されることをSTM観察により明らかにした。また、エピタキシャル成長中の伝導特性は、薄膜堆積時から変化している結果が得られ始めており、微視的な電子状態観察と巨視的な電気伝導特性の両面から、酸化物界面の伝導について議論する。
Journal
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- Abstract of annual meeting of the Surface Science of Japan
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Abstract of annual meeting of the Surface Science of Japan 32 (0), 210-, 2012
The Japan Society of Vacuum and Surface Science
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Details 詳細情報について
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- CRID
- 1390001205679278080
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- NII Article ID
- 130005456562
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- Data Source
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- JaLC
- CiNii Articles
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- Abstract License Flag
- Disallowed