Selection precept of epoxy resin for improving reliability of resin-sealed LSI device
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- Wada Tomoya
- University of Hyogo
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- Seo Kenji
- University of Hyogo
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- Kusaka Masahiro
- University of Hyogo
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- Kimura Masaaki
- University of Hyogo
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- Nomura Eiichi
- Nagase ChemteX Corporation
Bibliographic Information
- Other Title
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- 樹脂封止LSI素子の信頼性向上のための樹脂の選定指針
Abstract
エポキシ樹脂アンダーフィルを用いた半導体素子に生じる熱応力におよぼす,樹脂特性(ヤング率,線膨張係数)の影響を二次元弾塑性有限要素解析を行うことにより明らかにした.そして,その結果より素子の信頼性を向上させるための樹脂選定指針を得ることができた.
Journal
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- Preprints of the National Meeting of JWS
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Preprints of the National Meeting of JWS 2005f (0), 26-26, 2005
JAPAN WELDING SOCIETY
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Details 詳細情報について
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- CRID
- 1390001205696340480
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- NII Article ID
- 130004641167
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- Data Source
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- JaLC
- CiNii Articles
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- Abstract License Flag
- Disallowed