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- 押山 淳
- 筑波大学物理学系
書誌事項
- タイトル別名
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- Elementary Atomic Reactions and Thin Film Morphology(<Special Issue> Quantum Mechanical Approach to Epitaxial Growth)
- 薄膜のモフォロジーと原子反応の素過程
- ハクマク ノ モフォロジー ト ゲンシ ハンノウ ノ ソカテイ
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説明
A review is given on the first-principle total-energy electronic-structure calculations which clarify roles of energetics and kinetics in atomic reactions at the initial stage of semiconductor epiaxial growth. It is demonstrated that the bunching of double-layer steps on Si (100) leads to the {311} facet which is commonly observed in epitaxial grpwth on the surface. It is emphasized that microscopic atomic structures at the initial stages crucially affect the morphology of the resulting overlayers.
収録刊行物
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- 日本結晶成長学会誌
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日本結晶成長学会誌 23 (1), 23-29, 1996
日本結晶成長学会
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1390001205864610816
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- NII論文ID
- 110002714591
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- NII書誌ID
- AN00188386
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- ISSN
- 21878366
- 03856275
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- NDL書誌ID
- 3934880
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- 本文言語コード
- ja
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- データソース種別
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- JaLC
- NDL
- CiNii Articles
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- 抄録ライセンスフラグ
- 使用不可