662 赤外線ふく射法を用いた高エンタルピー流温度計測(OS9-1 宇宙輸送・推進技術,OS9 宇宙工学技術)

詳細情報 詳細情報について

• CRID

  1390001205943751552

• NII論文ID

  120006341149

  110007721552

• NII書誌ID

  AN00360681

• DOI

  10.1299/jsmetokai.2008.57.445

• ISSN

  24242748

• HANDLE

  20.500.12099/40163

• Web Site

  https://gifu-u.repo.nii.ac.jp/records/78548

  https://www.jstage.jst.go.jp/article/jsmetokai/2008.57/0/2008.57_445/_pdf

• 本文言語コード

  ja

• 資料種別

  journal article

• データソース種別

  • JaLC
  • IRDB
  • Crossref
  • CiNii Articles
  • OpenAIRE