23pPSA-8 抵抗変化型メモリ素子NiOの偏光依存硬X線光電子分光による電子状態の解明

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タイトル別名
  • 23pPSA-8 Investigation of the electronic structure of NiO with polarization-dependent hard x-ray photoelectron spectroscopy

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詳細情報 詳細情報について

  • CRID
    1390001205954004352
  • NII論文ID
    110009991257
  • DOI
    10.11316/jpsgaiyo.70.1.0_1559
  • ISSN
    21890803
  • 本文言語コード
    ja
  • データソース種別
    • JaLC
    • CiNii Articles

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