テラヘルツ波角度分解透過測定によるSb<sub>2</sub>Te<sub>3</sub>薄膜の研究

DOI

書誌事項

タイトル別名
  • Study of Sb<sub>2</sub>Te<sub>3</sub> thin films by THz angle-resolved transmission spectroscopy

説明

<p>トポロジカル絶縁体Sb_2_Te_3_薄膜において、テラヘルツ波による角度分解透過測定を行った。得られた透過スペクトルにおいて、垂直入射の場合では1.9 THz付近にフォノンによる吸収モードと1 THz以下に新奇な吸収モードが観測された。また、テラヘルツ波の入射角を変えることで、1 THz以下の吸収モードの形状が大きく変化することを見出した。この1 THz以下の吸収モードの起源について講演で議論する。</p>

収録刊行物

キーワード

詳細情報 詳細情報について

  • CRID
    1390001205958637696
  • NII論文ID
    130006244031
  • DOI
    10.11316/jpsgaiyo.71.2.0_1367
  • ISSN
    21890803
  • 本文言語コード
    ja
  • データソース種別
    • JaLC
    • CiNii Articles
  • 抄録ライセンスフラグ
    使用不可

問題の指摘

ページトップへ