Angle-resolved photoemission spectroscopy of ultrathin Bi(110) films grown on graphene

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  • グラフェン上Bi(110)超薄膜の角度分解光電子分光

Abstract

<p>SiC上グラフェンを基板として成長させた、1bilayer(BL), 2BL, および3BLのBi(110)薄膜の電子状態を角度分解光電子分光により調べた。LEED観察とARPESでのフェルミ面マッピングにより、Bi(110)薄膜は、Biのzigzag方向とグラフェンのarmchair方向が約3度ずれた6つの面内ドメインを持つことがわかった。また、これらの膜厚における、G-X1方向およびG-X2方向のバンド分散を明らかにできた。</p>

Journal

Keywords

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  • CRID
    1390001205960471680
  • NII Article ID
    130006244985
  • DOI
    10.11316/jpsgaiyo.71.2.0_2311
  • ISSN
    21890803
  • Text Lang
    ja
  • Data Source
    • JaLC
    • CiNii Articles
  • Abstract License Flag
    Disallowed

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