9pAD-5 III-V族半導体量子ドットにおけるフォトンエコーの減衰形状の励起強度依存性(9pAD 微粒子・ナノ結晶・非線形光学,領域5(光物性))

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タイトル別名
  • 9pAD-5 Excitation intensity dependence of the decay profile of the photon echoes in III-V compound semiconductor quantum dots

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詳細情報 詳細情報について

  • CRID
    1390001205966982144
  • NII論文ID
    110009875839
  • DOI
    10.11316/jpsgaiyo.69.2.4.0_527_3
  • ISSN
    21890803
  • 本文言語コード
    ja
  • データソース種別
    • JaLC
    • CiNii Articles

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