9pAD-5 III-V族半導体量子ドットにおけるフォトンエコーの減衰形状の励起強度依存性(9pAD 微粒子・ナノ結晶・非線形光学,領域5(光物性))
書誌事項
- タイトル別名
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- 9pAD-5 Excitation intensity dependence of the decay profile of the photon echoes in III-V compound semiconductor quantum dots
収録刊行物
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- 日本物理学会講演概要集
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日本物理学会講演概要集 69.2.4 (0), 527-, 2014
一般社団法人 日本物理学会
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1390001205966982144
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- NII論文ID
- 110009875839
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- ISSN
- 21890803
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- 本文言語コード
- ja
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- データソース種別
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- JaLC
- CiNii Articles