28aZK-5 層状ワイドギャップ半導体 (LaO) CuS のフォトルミネッセンス

詳細情報 詳細情報について

• CRID

  1390001205995350144

• NII論文ID

  110002219808

• DOI

  10.11316/jpsgaiyo.58.1.4.0_609_4

• ISSN

  21890803

• 本文言語コード

  ja

• データソース種別

  • JaLC
  • CiNii Articles