Simulations for cooling part for cryogenic ion source and ion generation test

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  • 極低温イオン源の冷却部シミュレーション及びイオン発生実験

Abstract

<p>現在, 静電型イオン蓄積リング（TMU E-ring）での実験において入射イオンは高温のイオンを用いている. その為，入射イオンはボルツマン分布に従う広い内部エネルギー分布を持っており, 任意のエネルギー状態のみを選択的に観測することは困難であった. そこで入射前にイオンをイオントラップに蓄積し十分に冷却してからTMU E-ringへ入射する極低温イオン源の開発を進めてきた. この講演では冷却部シミュレーション及びイオン発生の試験実験を中心に開発状況を発表する．</p>

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  • CRID
    1390001206047476736
  • NII Article ID
    130006711676
  • DOI
    10.11316/jpsgaiyo.72.1.0_671
  • ISSN
    21890803
  • Text Lang
    ja
  • Data Source
    • JaLC
    • CiNii Articles
  • Abstract License Flag
    Disallowed

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