2-2 Failure Analysis of CAF inside of PWB Utilizing Non-destructive Analysis Techniques
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- TSUCHIYA Hideharu
- アンデン株式会社第2品質保証部
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- IHARA Yoshiyuki
- 楠本化成株式会社エタック事業部
Bibliographic Information
- Other Title
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- 2-2 非破壊解析技術を活用したプリント配線板CAFの故障解析(セッション2「試験,故障解析,部品,要素技術の信頼性,ハードウェア面,組織,管理,規格,プロジェクト管理」)
- 非破壊解析技術を活用したプリント配線板CAFの故障解析
- ヒハカイ カイセキ ギジュツ オ カツヨウ シタ プリント ハイセンバン CAF ノ コショウ カイセキ
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Description
プリント配線板(PWB)でCAFの発生が懸念される代表的な配線パターンを形成した多層構造を持つテスト基板に、高温高湿環境下で高電圧を印加し絶縁抵抗劣化サンプルを作成し、各種解析技術を駆使して故障個所を非破壊で特定するとともに、その原因がCAFであることを検証した。熱伝搬を利用するロックインサーモグラフィ(LIT)解析では、装置条件を適正に設定し、VIAと内層配線間など解析が困難と考えられる場所で局所的に発生したCAFを、深さ方向を含めピンポイントで絞り込めることを実証した。
Journal
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- Proceeding of Symposium on Reliability
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Proceeding of Symposium on Reliability 2015Spring.23 (0), 27-30, 2015
Reliability Engineering Association of Japan