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- 大野 隆央
- NTT LSI研究所
書誌事項
- タイトル別名
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- Interactions of Halogen Atoms with Semiconductor Surfaces.
抄録
局所密度汎関数法に基づく ab initio な電子状態計算の進歩により, 半導体表面と吸着子の相互作用や反応素過程を調べることが可能となってきた。化学反応性の高いハロゲン原子を用いるドライエッチングは重要な半導体加工プロセス技術であるが, その反応素過程は十分には解明されていない。本稿では, ハロゲン原子の半導体表面への吸着過程, 表面再構成の変化,表面バック・ボンドへの影響, 表面近傍での反応過程などを理論的に調べ, 半導体のエッチング機構を議論する。
収録刊行物
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- 表面科学
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表面科学 14 (1), 10-16, 1993
公益社団法人 日本表面科学会
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1390001206456617344
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- NII論文ID
- 130003451388
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- ISSN
- 18814743
- 03885321
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- 本文言語コード
- ja
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- データソース種別
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- JaLC
- Crossref
- CiNii Articles
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- 抄録ライセンスフラグ
- 使用不可