-
- 脇坂 祐輝
- 北海道大学触媒科学研究所
-
- 岩崎 裕也
- 北海道大学触媒科学研究所
-
- 上原 広充
- 北海道大学触媒科学研究所
-
- 向井 慎吾
- 北海道大学触媒科学研究所
-
- 城戸 大貴
- 北海道大学触媒科学研究所
-
- 高草木 達
- 北海道大学触媒科学研究所
-
- 上村 洋平
- 自然科学研究機構分子科学研究所
-
- 和田 敬広
- 東京医科歯科大学大学院医歯学総合研究科
-
- YUAN Qiuyi
- 北海道大学触媒科学研究所
-
- 関澤 央輝
- 電気通信大学燃料電池イノベーション研究センター
-
- 宇留賀 朋哉
- 電気通信大学燃料電池イノベーション研究センター 高輝度光科学研究センター
-
- 岩澤 康裕
- 電気通信大学燃料電池イノベーション研究センター
-
- 朝倉 清高
- 北海道大学触媒科学研究所
書誌事項
- タイトル別名
-
- Approach to Highly Sensitive XAFS by Means of Bent Crystal Laue Analyzers
- ラウエガタ ワンキョク ケッショウ ブンコウキ ニ ヨル コウカンド XAFS
この論文をさがす
抄録
<p>A log-spirally bent crystal Laue analyzer has been investigated and developed for highly sensitive in situ surface X-ray absorption fine structure (XAFS) measurement. Both calculations and experiments were conducted to obtain its intensity distributions on the different positions of the analyzer. A home-made log-spirally bent crystal Laue analyzer was made and evaluated. It was revealed that higher XAFS signals were obtained with the home-made analyzer than with the commercial one.</p>
収録刊行物
-
- 表面科学
-
表面科学 38 (8), 378-383, 2017
公益社団法人 日本表面科学会
- Tweet
詳細情報 詳細情報について
-
- CRID
- 1390001206456984832
-
- NII論文ID
- 130005997139
-
- NII書誌ID
- AN00334149
-
- ISSN
- 18814743
- 03885321
-
- NDL書誌ID
- 028468949
-
- 本文言語コード
- ja
-
- データソース種別
-
- JaLC
- NDL
- Crossref
- CiNii Articles
-
- 抄録ライセンスフラグ
- 使用不可