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- 小宮 宗治
- 日本真空技術(株),神奈川県茅ケ崎市萩園2500
書誌事項
- タイトル別名
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- An Introduction of a Theoretical Model for Mechanism of Secondary Ion Emission in SIMS.
- SIMS ニ オケル ニジ イオン ホウシュツ イオン ホウシュツ キコウ ジ
- -For Auto-Ionization Process Model-
- ―自己電離過程モデルを中心とし―
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抄録
資料形態 : テキストデータ プレーンテキスト
収録刊行物
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- 質量分析
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質量分析 26 (2), 113-122, 1978
一般社団法人 日本質量分析学会
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キーワード
詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1390001206497440512
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- NII論文ID
- 130002033095
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- NII書誌ID
- AN0010555X
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- ISSN
- 05428645
- 18804225
- 18843271
- 13408097
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- NDL書誌ID
- 1947295
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- データソース種別
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- JaLC
- NDL
- Crossref
- CiNii Articles