ナノテクノロジーのための計測技術  周波数検出方式原子間力顕微鏡の超高分解能化とフォーススペクトロスコピー

書誌事項

タイトル別名
  • High-Resolusion Imaging and Force Sspectroscopy Using Frequency Modulation Atomic Force Microscopy
  • シュウハスウ ケンシュツ ホウシキ ゲンシカンリョク ケンビキョウ ノ チョウコウブンカイ ノウカ ト フォーススペクトロスコピー

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収録刊行物

  • 計測と制御

    計測と制御 45 (2), 93-98, 2006

    公益社団法人 計測自動制御学会

参考文献 (16)*注記

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