書誌事項
- タイトル別名
-
- High-Resolusion Imaging and Force Sspectroscopy Using Frequency Modulation Atomic Force Microscopy
- シュウハスウ ケンシュツ ホウシキ ゲンシカンリョク ケンビキョウ ノ チョウコウブンカイ ノウカ ト フォーススペクトロスコピー
この論文をさがす
収録刊行物
-
- 計測と制御
-
計測と制御 45 (2), 93-98, 2006
公益社団法人 計測自動制御学会
- Tweet
キーワード
詳細情報 詳細情報について
-
- CRID
- 1390001206517762688
-
- NII論文ID
- 10017286260
-
- NII書誌ID
- AN00072406
-
- ISSN
- 18838170
- 04534662
-
- NDL書誌ID
- 7843435
-
- 本文言語コード
- ja
-
- データソース種別
-
- JaLC
- NDL
- CiNii Articles
- KAKEN