書誌事項
- タイトル別名
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- An Automatic Interferometric Thickness Meter
- ハクショクコウ ノ カンショウ オ リヨウシタ ヒ セッショク マクアツケイ
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説明
An automatic white-light interferometric thickness meter, which is suitable for the measurement of moving transparent double layer films, has been developed. According to our experiment, the desiable difference of refractive indicies was more than 0.3. The measuring accuracy of thickness meter was within ±0.5 μm tolerances which satisfied our intension.
収録刊行物
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- 日本写真学会誌
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日本写真学会誌 42 (5), 314-319, 1979
社団法人 日本写真学会
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1390001206569029248
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- NII論文ID
- 130004283592
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- NII書誌ID
- AN00191766
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- ISSN
- 18845932
- 03695662
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- NDL書誌ID
- 2160851
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- 本文言語コード
- ja
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- データソース種別
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- JaLC
- NDL
- CiNii Articles
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- 抄録ライセンスフラグ
- 使用不可
