書誌事項
- タイトル別名
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- Study on Residual Phase Noise Effect of Sampling Clock in Fully Digital Phase Noise Measurement
- フルディジタル イソウ ザツオン ケイソク ニ オケル サンプリングクロック ノ イソウ ザツオン ザンリュウリョウ ニ カンスル ケントウ
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説明
<p>In this paper, we examined the phase noise residual effect of sampling clock in fully digital phase noise measurement. When measuring the phase noise of the oscillator, it is necessary to prepare a reference oscillator (REF) in addition to the DUT. Although the frequency of the DUT and REF is the same in the phase noise measurement using the conventional PLL, the frequency of the DUT and the REF is different because the PLL is not used in the fully digital phase noise measurement. In particular, it is clarified that fatal measurement error occurs when the frequency of the measured oscillator and the reference oscillator are different.</p>
収録刊行物
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- 電気学会論文誌. A
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電気学会論文誌. A 139 (11), 625-631, 2019-11-01
一般社団法人 電気学会
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キーワード
詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1390001277380546048
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- NII論文ID
- 130007740682
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- NII書誌ID
- AN10136312
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- ISSN
- 13475533
- 03854205
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- NDL書誌ID
- 030087348
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- 本文言語コード
- ja
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- データソース種別
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- JaLC
- NDLサーチ
- Crossref
- CiNii Articles
- OpenAIRE
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- 抄録ライセンスフラグ
- 使用不可