RKKY型HeisenbergスピングラスアモルファスGdDySiのH-T相図に対するランダム一軸異方性の効果II

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タイトル別名
  • Effect of random uniaxial anisotropy on critical lines in H-T plane for a RKKY Heisenberg spin glass amorphous GdDySi system Ⅱ

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詳細情報 詳細情報について

  • CRID
    1390001288093390848
  • NII論文ID
    130007511017
  • DOI
    10.11316/jpsgaiyo.72.2.0_660
  • ISSN
    21890803
  • 本文言語コード
    ja
  • データソース種別
    • JaLC
    • CiNii Articles

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