書誌事項
- タイトル別名
-
- Intensity Estimation of Electromagnetic Emission from Individual ICs Based on Noise Source Amplitude Modulation and Correlation Analysis
- ノイズ ゲン シンプク ヘンチョウ ト ソウカン カイセキ ニ モトズク ノイズ ゲン IC ゴト ノ デンジ ボウガイハ キョウド スイテイ
この論文をさがす
抄録
<p>EMI対策および評価コストの削減を目的として，ノイズ源IC毎の放射強度推定法を提案する。この手法はEMI発生要因の1つであるスイッチング電流を振幅変調し，その時の電磁妨害波の時間変化を観測することで得られるノイズ源強度比から各ICの放射強度を推定する。本論文では，プリント回路板に提案手法を適用し，遠方界放射から複数ICによる放射の強度を算出，さらにIC個別に駆動した測定結果と比較し推定精度を評価した。その結果，各ICに起因する放射が同相と見なせる場合に放射強度を高い精度で推定可能であることを示した。</p>
収録刊行物
-
- エレクトロニクス実装学会誌
-
エレクトロニクス実装学会誌 22 (3), 218-225, 2019-05-01
一般社団法人エレクトロニクス実装学会
- Tweet
詳細情報 詳細情報について
-
- CRID
- 1390001288137376128
-
- NII論文ID
- 130007644232
-
- NII書誌ID
- AA11231565
-
- ISSN
- 1884121X
- 13439677
-
- NDL書誌ID
- 029720190
-
- 本文言語コード
- ja
-
- データソース種別
-
- JaLC
- NDL
- Crossref
- CiNii Articles
- KAKEN
-
- 抄録ライセンスフラグ
- 使用不可